Bevezetés az elektronmikroszkópiába

Az elektronmikroszkópok maximális nagyítása ma már meghaladja a 15 milliószorost,
1931-ben a német M. Nohr és E. Ruska egy hidegkatódos kisülésű elektronforrással és három elektronlencsével ellátott nagyfeszültségű oszcilloszkópot módosítottak, és több mint tízszeresére nagyított képeket kaptak. Feltalálták a transzmissziós elektronmikroszkópot, amely megerősítette az elektronmikroszkópos képalkotást felerősítő lehetőségét. 1932-ben a Ruska fejlesztésével az elektronmikroszkópok felbontási képessége elérte az 50 nanométert, mintegy tízszeresét az akkori optikai mikroszkópokénak, áttörve az optikai mikroszkópok felbontási határát. Ennek eredményeként az elektronmikroszkópok kezdtek felfigyelni.
Az 1940-es években Hill az Egyesült Államokban asztigmatizálóval kompenzálta az elektronlencsék forgási aszimmetriáját, ami új áttörést eredményezett az elektronmikroszkópok felbontásában, és fokozatosan elérte a modern szintet. Kínában 1958-ban sikeresen kifejlesztettek egy 3 nanométeres felbontású transzmissziós elektronmikroszkópot, 1979-ben pedig egy nagyméretű, 0,3 nanométeres felbontású elektronmikroszkópot is.
Bár az elektronmikroszkópok felbontása messze felülmúlja az optikai mikroszkópét, az élő szervezeteket nehéz megfigyelni a vákuumkörülmények között történő munkavégzés szükségessége miatt, és az elektronsugaras besugárzás is sugárzási károsodást okozhat a biológiai mintákban. Más kérdések, mint például az elektronágyú fényerejének és az elektronlencse minőségének javítása szintén további kutatást igényelnek.
Terepi emissziós pásztázó elektronmikroszkóp
Fő felhasználási terület: Ez a műszer rendkívül nagy felbontású, és képes megfigyelni és feldolgozni a másodlagos elektronképeket és a különböző szilárd minták felületi morfológiáinak visszavert elektronképeit. Nagy teljesítményű röntgen-energiaspektrométerrel felszerelt, egyidejűleg képes a minta felületén mikropont-, vonal- és felületelemek kvalitatív, félkvantitatív és kvantitatív elemzésére, valamint a morfológiai és kémiai összetevők átfogó elemzésére.
Műszerkategória: 03040702/Műszerek/Optikai műszerek/Elektronikus optika és ionoptikai műszerek
Kijelző információ: Másodlagos elektron képfelbontás: 1,5 nm Gyorsított feszültség: 0-30kV Erősítési tényező: 100-500000-szer Folyamatosan állítható munkatáv: 5-35mm Folyamatosan állítható dőlésszög: -5 fok ~ 45 fokos röntgen spektrométer: Felbontás: 133eV Elemzési tartomány: BU
Melléklet információk: Arany- és szénbevonatú műszer ISIS képfeldolgozó rendszer visszaszórás szonda
A terepi emissziós pásztázó elektronmikroszkópia nagy felbontásának köszönhetően megbízható kísérleti eszközt nyújt nanoanyagok tanulmányozására. Ezenkívül kielégítő képeket kaptunk mind a félvezető anyagokról, mind a szigetelőkről. Morfológiai megfigyeléseket végeztek szupravezető vékony filmeken, mágneses anyagokon, molekuláris nyaláb epitaxiával növesztett vékonyfilmes anyagokon és félvezető anyagokon. Különböző anyagokon végeztünk mikrorégió összetétel elemzést, és kielégítő eredményeket kaptunk